仪器英文名称： 规格型号：Dimension ICON

仪器类型：分析仪器>>显微镜及图像分析仪器>>扫描探针显微镜

国别：美国生产厂商：美国Veeco仪器公司

启用日期：2010年7月1日实验室认证认可情况：否

仪器所在单位：中南大学仪器所在城市： 长沙市

所在实验室：机电工程学院

类别名称：

通讯地址：长沙市麓山南路

所在科室名称：冶金机械实验室机电大楼C-107

仪器存放地点：长沙市麓山南路

仪器联系人：陶轩

联系人电话：13549657429联系人E-mail：

主要技术指标：X-Y方向扫描范围：90um *90um典型值，最小85um。Z方向扫描范围：10um典型值，在成像及力曲线模式下；最小9.5um。垂直方向噪音基底：<30pmRMS,在合适的环境及典型的成像带宽（达到625Hz）。X-Y定位噪音（闭环）：≤0.15nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz）。X-Y定位噪音（闭环）：≤0.10nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz）。Z传感器噪音水平（闭环）：35pm RMS,典型成像带宽（达到625Hz）。整体线性误差（X-Y-Z）：0.5典型值。样品尺寸/夹具：210mm真空吸盘样品台，直径≤210mm,厚度≤15mm。电动定位样品台（X-Y轴）：180mm*180mm可视区域；单向2um重复性；双向3um重复性。显微镜光学系统：五百万像素数字照相机。180um至1465um可视范围。数字缩放及自动对焦功能。控制器：NanoScope V型控制器。工作台：整合所有控制器、结合人体工学设计，提供直接的物理或可视借口。震动隔绝：整体式气动减震台。声音隔绝：可隔绝环境中85 dBC的持续噪音。

主要附件及功能：结合Veeco最新的行业领先的针尖-扫描AFM技术，Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级，X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中，这种表现是非常突出的，优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。Icon不仅具有非常好的分辨率，它还具备许多新的特性，以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率：#8226;专利设计的扫描管，实现闭环扫描功能同时，具有开环扫描管的噪音水平，在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率8226;全新设计的XYZ闭环扫描管，在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度，具有非常快的数据采集能力8226;最新的NanoScope软件版本，提供直观的操作流程及默认实验模块，将复杂的AFM操作流程转化为预先设置8226;高分辨率的照相机及X-Y定位，实现更迅速、更有效的样品定位8226;完全开放的针尖及样品环境，适用于绝大部分的标准或定制实验8226;硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术，包括现有的最先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式

主要应用领域：材料，地质矿产，机械工程

检测项目：聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究